Pasiūlyti neardantys polimerinių plėvelių optinės defektoskopijos metodai: struktūriškai apibrėžtos šviesos(angl. structured light); geometrinio muaro, raibumų fotografijos, fototamprumo). Atlikta plonų plėvelių paviršiaus defektų analizė. Gautos tikrinės modos, kai plėvelių paviršius yra defektuotas ir be defektų. Nustatytas defektuotų plėvelių liekamųjų įtempių pasiskirstymas. Rengiamos rekomendacijos neardančiai plėvelės fizikinių parametrų kontrolei, gamybos technologinio proceso metu.
Projekto finansavimas:
Tarpinstituciniai projektai
Projekto rezultatai:
Kartu su JAV mokslininkais tarptautiniuose žurnaluose atspausdinti 5 straipsniai. Rengiamos rekomendacijos plėvelės neardančiai fizikinių parametrų kontrolei gamybos proceso metu.
Projekto koordinatorius: Kauno technologijos universitetas
